Приглашение посетить Семинар

[cybec 0]

<noindex>http://www.cybercom.ru/seminar</noindex>

Приглашаем посетить Семинар. Инновационные решения для трехмерных измерений и контроля геометрии изделий.

Дата проведения: 21 октября 2009 г.

Место проведения: г. Москва.

В ходе семинара будут обсуждаться вопросы применения системы высокоточного оптического и лазерного сканирования, системы фотограмметрии и сопутствующих программных средств для:

- организации метрологического контроля геометрии деталей на производстве;

- проведения текущего ремонт технологической оснастки с формообразующими поверхностями сложной геометрической формы размером вплоть до 50 метров;

- создания справочных поверхностных моделей и использование 3D информации измерений в качестве входных данных для проектирования;

- создания 3D каталогов покупных изделий;

- решения обратной инженерной задачи для восстановления теоретических поверхностей изношенных деталей и технологической оснастки и деталей с применением CAD/CAM/CAE CATIA v5 и RapidForm XOR;

- решения для геометрического контроля технологической оснастки в нагретом состоянии (вплоть до 200°С);

- использования безбумажной технологии в рамках концепции PLM при проведении метрологического анализа, импортирование и использование PMI (GT&A);

Цель проведения семинара: демонстрация решений - представителям промышленных компаний авиакосмического, энергетического, химического, судостроительного рынка России и стран СНГ.

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться и подтвердить регистрацию. Участие в семинаре - бесплатное.

[cybec 0]

На семинаре много говорилось о применении CATIA v5. Среди докладчиков был представитель компании Bee pitron.

Фото с события.